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解决方案
解决方案
BVTEK 将机器视觉硬件与算法能力结合，为各行业提供可落地的检测方案。
3D 视觉测量
采用线激光与结构光技术，实现亚毫米级三维重建，适用于尺寸、形位公差测量。
表面缺陷检测
基于传统视觉与深度学习，识别划痕、污点、裂纹、凹坑等缺陷，支持少样本训练。
半导体与新能源
- 晶圆表面缺陷分类
- 锂电极片缺陷检测
- 电池封装尺寸测量
汽车与电子
- 零部件尺寸与装配检测
- PCB/元器件 AOI
- 标签与条码识别
BVTEK 将机器视觉硬件与算法能力结合，为各行业提供可落地的检测方案。
采用线激光与结构光技术，实现亚毫米级三维重建，适用于尺寸、形位公差测量。
基于传统视觉与深度学习，识别划痕、污点、裂纹、凹坑等缺陷，支持少样本训练。